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ISO/TS 28037:2010《纳米技术——粒径分布和形态测量方法指南》为选择、执行和验证纳米材料测量技术提供了一个全面框架。与侧重于定义的 ISO/TS 27687 不同,本技术规范解决了获取纳米材料特性可靠、可复现测量结果的实际挑战——由于纳米物体尺寸极小、表面反应性高和强烈的团聚倾向,这一任务异常困难。该标准由 ISO/TC 229 制定,填补了纳米材料特性的理论理解与实际可信测量之间的关键空白。
该标准涵盖了粒径分布(PSD)、平均粒径、比表面积(SSA)和颗粒形态描述符的测量。它根据材料类型、预期尺寸范围、样品制备方法和所需测量不确定度,提供了选择合适测量技术的指南。关键在于,该规范强调没有任何单一测量技术具有普适性——每种方法都有固有的偏差,在解释结果时必须理解并考虑这些偏差。技术的选择应基于所提出的具体问题:你是为材料分类而测量初级粒径,为生物相容性评估而测量流体动力学尺寸,还是为制造过程中的质量控制而测量团聚体尺寸?
该规范还涉及测量溯源性的重要主题,建议所有测量结果通过不间断的校准链溯源至 SI 单位。对于纳米尺度测量,这通常意味着使用已知粒径的认证参考材料(CRM)校准仪器,如胶体金纳米颗粒或聚苯乙烯乳胶球。该标准提供了选择合适 CRM、建立校准协议和估算校准链不确定度贡献的指南。
该规范调查了可用于纳米材料表征的主要测量技术,并提供了详细的比较矩阵以指导方法选择。关键见解在于,不同的测量原理探测不同的物理特性,因此对同一样品可能产生不同的结果。例如,动态光散射(DLS)测量流体动力学直径——包括溶剂化层和任何吸附物质——而透射电子显微镜(TEM)在干燥的高真空环境中测量物理核心直径。两者都是”粒径”的有效测量,但它们回答不同的问题,不一定能达成一致。理解这些差异对于方法选择和数据解释都至关重要。
| 技术 | 测量特性 | 尺寸范围 | 优势 | 局限性 |
|---|---|---|---|---|
| 透射电子显微镜(TEM) | 物理核心直径、形态、结晶度 | 1 nm – 5 um | 直接可视化、形态信息、元素分析(EDS) | 取样量小(通常<1000颗粒)、需真空环境、可能存在干燥伪影 |
| 扫描电子显微镜(SEM) | 表面形态、团聚体结构、形貌 | 10 nm – 1 mm | 类三维成像、更大视野、最少样品制备 | 分辨率低于 TEM、非导电样品需导电涂层 |
| 动态光散射(DLS) | 流体动力学直径、多分散指数(PDI) | 1 nm – 6 um | 快速测量(<5分钟)、高统计精度、悬浮液天然状态 | 偏向大颗粒、假设球形、对灰尘和聚集物敏感 |
| 原子力显微镜(AFM) | 高度(z维度)、三维形貌、团聚体形态 | 1 nm – 10 um | 亚纳米 z 分辨率、可在空气或液体中工作、无需特殊涂层 | 针尖卷积伪影、扫描速度慢、视野有限 |
| 氮气吸附(BET) | 比表面积、孔隙率 | SSA 0.01 – 2000 m2/g | 成熟标准方法(ISO 9277)、大取样量、行业标准 | 不直接提供 PSD、需干燥粉末、假设均匀表面性质 |
| 小角X射线散射(SAXS) | 电子密度相关距离、尺寸、形状 | 1 nm – 100 nm | 大样品体积系综平均、原位能力、无需干燥 | 需建模的复杂数据解释、同步辐射源获取受限 |
| 纳米颗粒追踪分析(NTA) | 数量基 PSD、颗粒浓度 | 10 nm – 2 um | 数量加权分布、逐颗粒视频计数 | 需仔细优化相机增益、焦距和分析设置 |
ISO/TS 28037:2010 非常重视样品制备,认识到纳米材料的分散、稀释和沉积方式强烈影响测量结果。该规范提供了详细的液体分散(使用受控超声处理、适当表面活性剂和 pH 调节)、基底沉积(静电捕获、滴涂、旋涂)和电子显微镜样品制备(冷冻固定、染色和切片)的协议。它强调了以足够详细程度报告分散协议以实现可复现性的重要性——这在已发表的纳米技术文献中令人遗憾地并不普遍。该标准建议记录超声能量输入(而不仅仅是时间)、分散液的最终 pH 值和电导率,以及制备与测量之间的时间间隔。
数据报告框架要求测量结果不仅包括集中趋势(均值、中位数、众数),还包括分布宽度(标准差、四分位距)、包含的颗粒或测量次数、报告值的置信区间以及可溯源至参考标准的测量不确定度声明。对于 PSD 报告,该规范建议尽可能同时呈现数量加权和体积加权分布,因为它们强调群体的不同方面。数量加权分布对毒理学评估最相关,而体积加权分布对理解材料特性和工艺行为更相关。
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