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聚光光伏(CPV)系统使用光学元件将阳光聚焦到小型高效率太阳能电池上,显著减少了所需的半导体面积,并有可能降低系统成本。一次光学元件——通常是菲涅尔透镜或反射镜——是收集和聚光太阳光的第一个光学元件,然后将光导向二次光学元件或直接照射到太阳能电池上。
IEC TS 62989为规定CPV系统中一次光学元件的特性提供了一个全面框架。该规范将要求组织为五个关键类别:光学、机械、材料、几何结构和外观质量。这种结构化方法确保所有相关性能参数都得到定义且可测量。
该规范定义了表征光学性能的详细方法。关键光学参数包括:
| 参数 | 说明 | 测量方法 |
|---|---|---|
| 光谱透射率 | 透镜材料随波长变化的透射率(300-1800 nm) | 带积分球的分光光度计 |
| 光谱反射率 | 反射镜表面随波长变化的反射率 | 带半球反射附件的分光光度计 |
| 焦距 | 指定波长下从透镜到焦平面的距离 | 方法A、B或C(见下文) |
| 透镜效率 | 到达焦点的光与总入射光的比值 | 环围能量测量 |
| 焦斑尺寸 | 包含指定百分比(如95%)聚焦能量的直径 | 光束轮廓分析 |
| 均匀性 | 焦平面辐照度的空间分布 | CCD相机或扫描探测器 |
| 阿贝数(Vd) | 透镜材料的色散特性 | 多波长折射率测量 |
该规范描述了三种测量焦距特性的替代方法:
一次光学元件必须承受制造、装配、运输、安装和运行过程中遇到的机械应力。该规范涉及的要求包括:
| 要求 | 测试方法 | 验收标准 |
|---|---|---|
| 最小半径 | 透镜/反射镜边缘的光学或机械轮廓测定 | 无超过规定限值的裂纹或缺口 |
| 表面硬度 | 压痕硬度测试 | 按材料规定值 |
| 抗冲击性(动态) | 使用冰球的冰雹冲击测试 | 无影响光学性能的断裂、分层或永久变形 |
该规范认识到CPV一次光学元件通常使用玻璃上光学级硅胶(SOG)制造的菲涅尔透镜或镀银/镀铝玻璃制造的反射镜。材料要求包括:
精确定义几何结构对CPV光学元件至关重要。该规范要求提供详细图纸,规定:透镜/反射镜尺寸、菲涅尔槽几何结构(节距、深度、面角)、棱尖半径和整体透镜组布局。还涉及设计和制造之间数字几何传输的数据交换格式,支持计算机辅助制造和质量保证。
一次光学元件中的缺陷和瑕疵可能降低CPV系统的性能。该规范定义了以下方面的验收标准:表面缺陷(划痕、凹坑、气泡)、雾度和纹影(折射率不均匀性)、制造过程中的烧焦痕迹以及颜色变化。这些外观质量标准确保保持光学质量,同时不对美观性施加不必要的高要求,以免增加成本而不带来性能提升。
技术规范是在主题仍处于技术开发阶段或尚无法就国际标准达成共识时发布的。TS 62989在其发布后三年内接受审查,以决定是否可以转化为国际标准。这反映了CPV技术不断发展的特性。
是的,IEC TS 62989涵盖菲涅尔透镜(折射光学)和反射镜(反射光学)。该规范在适当的地方为每种类型提供了单独的要求,例如透镜的光谱透射率和反射镜的光谱反射率。
该规范提供了三种替代方法。方法A使用准直光源和可移动探测器找到最大辐照度的位置。方法B使用激光束进行光束轮廓分析。方法C使用自然阳光,这最代表实际运行条件但也最难控制。方法的选择取决于所需的精度和可用设备。
阿贝数表征透镜材料的色散(折射率随波长的变化)。在CPV系统中,太阳光谱覆盖很宽的波长范围(约300-1800 nm)。色散导致不同波长的光聚焦在透镜的不同距离处,这可能增加焦斑尺寸并降低光学效率。较高的阿贝数表示较低的色散,通常更适合CPV应用。