IEC 61669:2001 — 电声学:助听器性能测量方法

💡 标准作用: IEC 61669:2001建立了统一的气导助听器电声性能测量方法,为制造商、听力学家和全球合规性测试提供了必要的测试协议。

1. 范围与测量框架

IEC 61669:2001规定了用于表征气导方式向耳朵传递放大声音的助听器电声性能的测量方法。该标准涵盖所有类型的气导助听器,包括耳背式(BTE)、耳内式(ITE)、耳道式(ITC)、深耳道式(CIC)和受话器位于耳道式(RIC)设备。主要测量参数包括满档增益(FOG)、饱和输出声压级(OSPL90)、频率响应特性、总谐波失真(THD)、等效输入噪声和电池电流消耗。

标准定义了两个主要的测量环境:2 cm³耦合腔(IEC 60318-5),用于模拟助听器测试中的残余耳道容积;以及自由场测量装置,用于确定助听器方向性特性和参考测试增益设置。

测量标准化说明:虽然IEC 61669提供了国际标准,但需注意存在国家差异版本——尤其是ANSI S3.22(美国),其在某些测试信号规格和公差上历来存在差异。现代修订版已趋向协调一致。

2. 关键测量参数与方法

2.1 OSPL90 与满档增益

OSPL90测试测量助听器在90 dB SPL输入驱动下产生的最大输出声压级——即饱和输出。这是最重要的安全相关参数,因为过大的输出可能导致进一步的听力损伤。满档增益(FOG)测量确定了在音量控制处于最大设置时设备的最大声学增益。

测试协议: 输入:90 dB SPL扫频正弦波(用于OSPL90)
测量:2 cm³耦合腔配合校准传声器
频率范围:200 Hz — 8 kHz(现代设备扩展至16 kHz)
关键指标:OSPL90不应超过132 dB SPL(根据IEC 60118-0的安全限值)

2.2 频率响应与参考测试增益

频率响应曲线描绘了助听器增益随频率的变化,通常在200 Hz至8 kHz范围内以三分之一倍频程间隔测量。参考测试增益(RTG)定义为在1.6 kHz处比FOG低15 dB的增益设置,为跨设备比较失真和噪声测量提供了标准化基准。

表1 — IEC 61669 关键测量参数
参数 符号 输入信号 测量范围 典型公差
饱和输出声压级 OSPL90 90 dB SPL扫频 100 — 140 dB SPL ±3 dB
满档增益 FOG 50 dB SPL扫频 20 — 80 dB ±5 dB
频率响应 FR 50-70 dB SPL扫频 200 — 8000 Hz ±3 dB
总谐波失真 THD 500/800/1600 Hz, 70 dB SPL 0.1 — 10% ±1%
等效输入噪声 EIN 无(自噪声) 15 — 35 dB SPL ±3 dB
电池电流 Ibat 1 kHz 60 dB SPL 0.5 — 5 mA ±0.1 mA

3. 助听器测试的工程设计洞察

从工程角度来看,助听器测量的实际挑战包括:

  • 声泄漏控制:助听器声音出口与耦合腔之间的密封至关重要——即使微小的泄漏也会显著影响低频测量(500 Hz以下)。标准规定了校准程序和泄漏验证方法。
  • 双传声器方向性测试:具有双传声器波束形成技术的现代助听器需要在消声环境中进行自由场测量,并具有定义的声场(通常是扩散场或正面入射)。至少需要在水平面内测量极坐标响应模式。
  • 数字处理延迟:现代数字助听器由于模数转换、DSP处理和数模转换引入了群延迟。虽然2001版标准未直接规定,但超过10 ms的群延迟会在助听器使用者通过骨传导听到自己声音时引起可听伪影(梳状滤波效应)。
最佳实践:为获得准确且可重复的测量结果,在记录数据前将助听器在参考测试增益下预处理5分钟。这可以稳定自动增益控制电路,避免可能使频率响应测量失真高达6 dB的瞬态启动效应。

4. 实例:耳背式助听器测量

根据IEC 61669标准,典型的耳背式助听器测量序列如下:(1)使用合适的导管和耳钩适配器将助听器安装到2 cm³耦合腔中。(2)以90 dB SPL输入从200 Hz到8 kHz扫频测量OSPL90。(3)将音量控制设为满档并测量FOG。(4)将增益降低到参考测试增益水平。(5)在500、800和1600 Hz测量THD。(6)在声学输入最小化(消声室)的条件下记录输出,测量等效输入噪声。(7)在标准测试条件下记录电池电流。

❓ 问1:OSPL90和原位OSPL90有何区别?

答:OSPL90在标准2 cm³耦合腔中测量。原位OSPL90使用探针传声器在实际耳道中测量到达鼓膜的实际输出。根据耳道几何形状和通气孔情况,原位值可能相差5-15 dB。

❓ 问2:该标准如何处理无线助听器功能(感应线圈、蓝牙)?

答:2001版主要涉及声学输入测量。无线功能在后来的修订版和相关标准(感应线圈见IEC 60118-4,无线干扰见IEC 60118-13)中涵盖。

❓ 问3:测量变异性的常见来源有哪些?

答:最重要的来源包括耦合腔放置差异、耳钩/导管差异、声密封质量、环境噪声(尤其对于低于25 dB SPL的EIN测量)以及AGC电路预处理时间不足。

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