BS IEC 61671——自动测试标记语言（ATML）系列标准

💻 BS IEC 61671 系列标准由英国标准学会（BSI）采纳国际电工委员会（IEC）与 IEEE 联合发布的标准而成，是自动测试领域基于 XML 的信息交换规范。该系列定义了用于在自动测试设备（ATE）与测试信息之间进行数据交换的自动测试标记语言（ATML），涵盖总体架构、仪器描述、测试配置、测试适配器与测试站等组件标准，被国防电子、航空航天、汽车电子与工业电子产品测试系统的研制与维护广泛采用。

在现代装备与电子产品研制中，测试系统往往由多个厂商的硬件与软件组合而成，测试程序、仪器描述与测试结果分散在不同系统中，数据格式五花八门。ATML 正是为破解这一”信息孤岛”问题而诞生：它将测试信息统一表达为机器可读、可校验的 XML 文档，使不同系统之间能够真正实现互操作与数据复用。

一、标准系列构成与适用范围 📌

本系列标准在 ICS 25.040（工业自动化系统）与 35.060（信息技术应用）分类下建立，由英国技术委员会 EPL/501（电子组装技术）与 GEL/93（设计自动化）负责制修订。系列构成如下：

从适用范围看，本系列适用于对自动测试系统及其组成要素进行信息建模的场景，包括测试需求分析、测试程序集（TPS）开发、测试资源分配、测试执行与结果归档。凡涉及 ATE、仪器、适配器、测试站之间信息交换的工程，均可依据本系列建立统一的数据表达。

二、ATML 架构与信息模型 🔧

ATML 采用模块化的组件标准体系，各组件通过 XML 模式定义（XSD）固化信息结构：

• 总体架构（Part 1）：定义 ATML 的概念模型、组件间关系与通用机制，是其它分部的技术基础。
• 仪器描述（Part 2）：描述测试仪器的能力、接口、量程与精度等信息，支持测试程序与仪器资源的自动匹配。
• 测试配置与测试站（Part 4/6）：描述测试系统的硬件配置、仪器连接与测试站能力，支持测试系统互连与资源共享。
• 测试适配器（Part 5）：描述适配器的通道映射、连接关系与信号路径，连接被测单元与测试站。

总体架构规定了 ATML 数据模型在概念层的组织方式，而各分部则以独立 schema 给出某一类信息的具体结构。例如，仪器描述分部（Part 2）在架构的通用定义基础上，进一步定义了仪器接口、通道、触发、量程与校准信息的 XML 模式，使测试程序能够依据这些描述自动完成资源分配与测量配置。

三、关键技术要点 🔬

• XML 模式化：各分部均提供正式的 XML Schema，确保数据交换的语法与语义可验证。
• 被测单元描述：ATML 支持对被测单元（UUT）的能力、接口与测试需求进行结构化描述。
• 测试结果表达：测试结果信息模型支持自动生成测试报告与统计分析，便于质量追溯。
• 与 IEEE 1671 对应：IEC 61671 系列与 IEEE 1671 系列在技术上对应，便于国际范围的标准协调与互认。

以仪器描述为例，ATML 通过分层结构描述仪器的物理与逻辑资源：物理层描述硬件通道与接口，逻辑层描述测量功能、量程与不确定度。这种分层使测试程序只依赖逻辑能力描述，从而在更换具体仪器型号时无需重写测试程序，显著提升测试系统的灵活性与可维护性。

四、工程实践与应用 🛠️

• 测试程序开发：利用仪器描述与测试站模型自动配置测试资源，提高测试程序开发效率。
• 系统集成：不同厂商的 ATE 与测试工具基于统一 XML 交换信息，实现系统级互操作。
• 数据交换与迁移：在测试系统升级换代时，通过标准模型实现测试数据与资料的平滑迁移。
• 智能制造：工厂级测试数据采集与分析平台利用 ATML 实现测试信息的标准化集成。

在工程实施中，建议分三步推进：首先梳理现有测试信息资产并映射到 ATML 数据模型；其次建立统一的 XML 模式与版本管理机制；最后在试点项目上验证数据交换与互操作，再逐步推广到全测试体系。

五、常见问题解答 ❓