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BS EN 50147——电波暗室（消声室）屏蔽衰减测量标准系列
Anechoic Chambers — Shield Attenuation Measurement（EN 50147-1 / 50147-2）
📡 BS EN 50147 是欧洲电工标准化委员会（CENELEC）制定的电波暗室（anechoic chamber，又称消声室、电波屏蔽室）系列标准，规定电磁兼容（EMC）测试用电波暗室屏蔽性能的测量方法。该系列以 BS EN 50147-1 为核心，给出电波暗室屏蔽衰减（shield attenuation）测量的通用方法、试验布置、频率范围、测量仪器与数据处理要求，是电磁兼容实验室建设、验收、期间核查以及产品 EMC 符合性测试的重要基础文件。
💡 电波暗室的”屏蔽衰减”衡量的是暗室金属屏蔽体对外部电磁干扰的隔离能力。暗室屏蔽性能不达标，外部环境噪声会直接污染内部被测设备的发射测量结果，导致 EMC 测试数据失真甚至误判。
一、标准系列概述 📌
BS EN 50147 系列由两部分组成：BS EN 50147-1 规定了屏蔽衰减测量的通用要求与方法；BS EN 50147-2 为系列配套的补充部分，侧重具体工程应用与验收细节。该系列标准由 CENELEC 技术委员会组织制定，在英国由 BSI 技术委员会 GEL/210（电磁兼容）负责转化并发布为英国国家标准，取代了此前分散的电磁屏蔽房间测试规范。
需要强调的是，电波暗室是进行辐射发射（RE）与辐射抗扰度（RS）测试的核心设施。暗室的金属屏蔽体、吸波材料以及电源滤波器、通风波导等附属部件的性能，共同决定暗室能否满足标准规定的背景噪声与场地衰减要求。BS EN 50147 正是围绕”如何测量并验证这些性能”展开的。
二、系列构成与技术要点 📋
| 标准号 | 中文标题 | 主要内容 |
|---|---|---|
| BS EN 50147-1:1997 | 电波暗室 第1部分：屏蔽衰减测量 | 规定电波暗室屏蔽衰减测量方法、试验装置、频率范围、测量程序与结果评定（可读文本版本） |
| BS EN 50147-2:1997 | 电波暗室 第2部分：补充要求（扫描版） | 屏蔽衰减测量工程应用、验收与实施细节（扫描版本，依据公开领域知识撰写） |
⚠️ 本系列中 BS EN 50147-2 属于扫描版本，正文以公开领域知识撰写，仅供技术参考；涉及具体工程验收与合规判定时，请以 BSI 官方发布版本为准。
三、关键技术要求 🔬
3.1 屏蔽衰减的定义与量值
屏蔽衰减（shield attenuation）描述的是电磁波穿过屏蔽体时的损耗能力，通常以分贝（dB）表示。屏蔽衰减值越大，说明屏蔽体对电磁波的隔离效果越好。标准规定测量时应在暗室内外分别布置发射与接收天线，通过比较有无屏蔽体时接收信号的差异，计算得到屏蔽衰减量值。测量结果随频率变化而变化，因此需要在标准规定的频率点上逐点测量，形成完整的屏蔽衰减-频率特性曲线。
3.2 测量频率范围
屏蔽衰减测量覆盖宽频率范围，一般从低频段（数十 kHz）一直延伸到高频段（GHz 量级）。在低频段，磁场分量起主导作用，测量以磁场屏蔽为主；在高频段，电场与平面波分量占主导，重点考核电场与平面波屏蔽性能。不同频段需采用不同型式与尺寸的天线，并合理控制天线与屏蔽体之间的距离，以满足远场或近场测量条件。
3.3 试验布置与测量程序
- 发射天线与接收天线：分置于暗室内外，极化方向相互对准，避免因极化失配造成测量误差。
- 扫频与点频测量：按标准规定的频率步进逐点测量，同时记录信号源输出电平、接收电平与天线系数。
- 数据处理：屏蔽衰减等于收发功率电平差经天线系数、距离与仪器修正后的净差值，通常取多次测量的平均值。
- 环境校准：测量前应校准信号源、接收机与天线系统，确保仪器链路的幅相特性已知。
四、工程实践应用 🛠️
- 🔍 暗室验收：新建或改建电波暗室须按 BS EN 50147 进行屏蔽衰减验收测试，确认各频段屏蔽性能满足设计指标后才可投入使用。
- 📊 背景噪声评估：暗室投入使用后，应定期核查背景噪声电平，确保其低于产品发射限值一定裕量，避免环境噪声抬高被测产品的发射测量值。
- 🔧 屏蔽完整性维护：暗室门、电源滤波器、通风波导、馈通接口等部位是屏蔽性能的薄弱环节，日常使用中应保持其密封与接地良好。
- 📋 与 EMC 标准衔接：BS EN 50147 的测量结果用于验证暗室是否满足相应 EMC 产品标准（如辐射发射、辐射抗扰度）对测试场地背景噪声与场地衰减的要求。
五、常见问题解答 ❓
❓ 问：电波暗室与普通屏蔽室有何区别？
答：屏蔽室只提供金属屏蔽功能，内壁通常不敷设吸波材料；电波暗室在屏蔽室内壁覆以吸波材料，以模拟自由空间（或半自由空间）传播条件，适合辐射发射与辐射抗扰度测试。二者都要求屏蔽性能达标，但电波暗室还要求足够的吸波性能。
答：屏蔽室只提供金属屏蔽功能，内壁通常不敷设吸波材料；电波暗室在屏蔽室内壁覆以吸波材料，以模拟自由空间（或半自由空间）传播条件，适合辐射发射与辐射抗扰度测试。二者都要求屏蔽性能达标，但电波暗室还要求足够的吸波性能。
❓ 问：屏蔽衰减测量与场地衰减测量是同一回事吗？
答：不是。屏蔽衰减衡量的是屏蔽体对电磁波的隔离能力（dB），反映暗室”不漏波”；场地衰减反映暗室内部传播路径上收发天线之间的传输损耗，与吸波材料的吸收性能相关。EMC 测试通常两项都要满足。
答：不是。屏蔽衰减衡量的是屏蔽体对电磁波的隔离能力（dB），反映暗室”不漏波”；场地衰减反映暗室内部传播路径上收发天线之间的传输损耗，与吸波材料的吸收性能相关。EMC 测试通常两项都要满足。
❓ 问：为什么低频段主要测磁场屏蔽？
答：低频电磁波以磁场分量为主，其波长长、穿透能力强，屏蔽难度大，因此低频段重点考核磁场屏蔽衰减；高频段则主要考核电场与平面波屏蔽衰减。
答：低频电磁波以磁场分量为主，其波长长、穿透能力强，屏蔽难度大，因此低频段重点考核磁场屏蔽衰减；高频段则主要考核电场与平面波屏蔽衰减。
❓ 问：暗室背景噪声超标对产品测试有什么影响？
答：背景噪声过高会叠加到被测产品的辐射发射信号上，使测量值偏大，可能导致合格产品被误判为不合格。通常要求暗室背景噪声比产品发射限值低 6 dB 以上。
答：背景噪声过高会叠加到被测产品的辐射发射信号上，使测量值偏大，可能导致合格产品被误判为不合格。通常要求暗室背景噪声比产品发射限值低 6 dB 以上。
