Physical Address
304 North Cardinal St.
Dorchester Center, MA 02124
Physical Address
304 North Cardinal St.
Dorchester Center, MA 02124
本标准由美国试验与材料协会(ASTM)D20.70分技术委员会负责制定,最初于一九六四年批准发布,历经多次修订,最新版本为二零二二年九月批准生效的D2238-22。标准旨在规范利用红外吸收分光光度法测量聚乙烯材料中甲基基团在1378 cm⁻¹(对应波长7.25微米)波数处吸光度的操作要求。该测试方法适用于密度范围涵盖低密度至高密度的三种聚乙烯类型:Ⅰ型(密度0.910至0.925 g/cm³)、Ⅱ型(密度0.926至0.940 g/cm³)以及Ⅲ型(密度0.941至0.965 g/cm³)。需要特别注意的是,当Ⅲ型聚乙烯的密度超过0.950 g/cm³时,本标准的两种试验方法会给出不同的结果。标准在制定时遵循了世界贸易组织技术性贸易壁垒委员会关于国际标准制定的原则,目前尚无对应的国际标准化组织(ISO)标准。
本标准的引用文件包括多项ASTM标准,如D618《塑料试验调节规程》、D1505《密度梯度法测定塑料密度》、E131《分子光谱术语》、E168《红外定量分析通用技术规程》以及E177《试验方法精密度和偏倚术语使用规程》等。这些配套标准为试样制备、仪器校准和数据评价提供了基础依据。标准还强调采用国际单位制(SI)作为正式计量单位,括号内给出的其他单位仅供参考。
聚乙烯分子链中的甲基基团(-CH₃)在红外光谱区有一个特征吸收带,其波数位于1378 cm⁻¹附近,该吸收对应于甲基基团的对称变形振动模式。然而,聚乙烯主链中亚甲基(-CH₂-)的弯曲振动在该区域也存在一定的吸收背景。为消除背景干扰,标准采用补偿技术:在测量光路中同时放置参比样品,使主链吸收相互抵消,只保留甲基的吸收信号。标准规定两种补偿操作模式:试验方法A采用已知甲基含量的标准样品薄膜作为补偿物;试验方法B则使用纯度极高的聚亚甲基楔形物或已知低甲基含量的聚乙烯薄膜进行补偿。
进行测试时,要求使用双光束红外分光光度计,仪器应在1378 cm⁻¹波数附近具有足够的分辨能力和波数准确度。试样需制备成厚度均匀的薄膜,其厚度范围应使吸收信号落在最佳测量区间。薄膜可通过热压或溶剂浇铸等方法成型,但必须确保膜面平整、无气泡且厚度一致。试样在测试前应按D618标准进行状态调节,以消除热历史和湿度影响。测量时记录试样光谱和参比光谱的差值,从基线至吸收峰顶的吸光度值即归因于甲基基团的贡献。标准明确指出,在解释测试结果时必须结合校准曲线,因为每个甲基基团的吸收系数并非恒定,尤其在存在乙基支链时,其单位基团的吸收率会异常偏高。
方法A和方法B的主要区别在于参比物质的选择。方法A使用与待测样品基本结构相似的已知甲基含量标准膜,通过直接比例计算得出结果,操作相对简便但依赖标准样品的准确性。方法B使用近乎无甲基的聚亚甲基材料作为补偿,理论上更接近真实基线,但需要精密制造楔形膜片以匹配样品厚度。两种方法均需在相同条件下扫描多次,取平均值报告。对于绝大多数聚乙烯样品,两种方法结果的一致性良好,但对于密度大于0.950 g/cm³的Ⅲ型材料,由于结晶度差异导致的光学畸变,方法A和方法B可能给出不同结果,此时应在报告中注明所采用的方法。
标准依据聚乙烯密度将其划分为三种类型,各自密度范围如下所示。此外,标准还对吸收测量的关键参数作出了规定或推荐。表一汇总了聚乙烯的密度分类及对应特性,表二比较了两种试验方法的核心要素。
| 🟦 类型 | 📏 密度范围 (g/cm³) | 🎯 典型材料 |
|---|---|---|
| Ⅰ型 | 0.910 – 0.925 | 低密度聚乙烯 |
| Ⅱ型 | 0.926 – 0.940 | 中密度聚乙烯 |
| Ⅲ型 | 0.941 – 0.965 | 高密度聚乙烯 |
| 📐 特征 | 方法A(标准膜补偿) | 方法B(聚亚甲基楔形补偿) |
|---|---|---|
| 🎯 补偿物质 | 已知甲基含量的标准聚乙烯薄膜 | 聚亚甲基楔形物或已知极低甲基含量的聚乙烯 |
| 📏 操作要点 | 将标准膜置于参比光路,采用比例法计算 | 使用楔形膜厚度扫描匹配,直接读取差示吸收 |
| ⚡ 适用密度范围 | Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ型(密度≤0.950一致,>0.950有偏差) | Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ型(密度>0.950时结果与方法A不同) |
| 🎯 对校准的依赖 | 高度依赖标准膜的甲基含量准确性 | 依赖聚亚甲基的纯度和楔形精度 |
| 🟦 标准编号 | 📏 名称 |
|---|---|
| D618 | 塑料试验调节规程 |
| D883 | 塑料相关术语 |
| D1505 | 密度梯度法测定塑料密度 |
| E131 | 分子光谱术语 |
| E168 | 红外定量分析通用技术规程 |
| E177 | 试验方法精密度和偏倚术语使用规程 |
| IEEE/ASTM SI-10 | 国际单位制使用标准 |
在聚乙烯的工业生产与质量控制中,甲基基团含量是评估聚合物支化度的重要指标。较高的甲基含量往往意味着短支链较多,直接影响材料的结晶度、硬度、韧性以及光学性能。因此,本标准被广泛用于聚乙烯牌号的开发和进厂检验。通过与分子量数据(如熔体流动速率配合)及端基乙烯基含量数据联合分析,可以深入了解聚合反应的机理与催化剂行为。标准中所列的注4明确指出,甲基和乙基支链在1378 cm⁻¹处表现出异常高的单位吸光值,这意味着在计算总甲基浓度时必须进行支链类型修正,否则会引入显著的系统误差。
实际应用中需特别注意以下几点。第一,试样薄膜的厚度应精确测量,因为吸收强度与厚度成正比,计算浓度时必须代入实际厚度值。第二,红外光谱的基线选择很关键,通常采用切线法或水平基线法确定吸收峰下方的背景扣除。第三,对于结晶度较高的高密度聚乙烯,尤其是密度大于0.950 g/cm³的样品,两种方法的结果出现分歧。这是由于高结晶区域的光散射效应改变了表观吸光度,且不同补偿方式对这种散射的修正能力不同。因此,在测试高密度聚乙烯时,除非验证过两种方法的一致性,否则应在报告中明确标注使用了方法A或方法B。第四,乙基支链的干扰可通过测量其他波数(如770 cm⁻¹附近的乙基摇摆振动)进行辅助校正。
质量控制中还应建立严格的校准程序。建议制备一系列甲基含量已知的标准样品(可通过合成或化学分析确定),周期性地验证测试系统的响应因子。当更换仪器部件(如光源、检测器)或改变样品制备工艺时,必须重新建立校准曲线。另外,试样调节条件对光谱也有影响,必须按D618标准在23℃±2℃和相对湿度50%±5%环境中调节至少40小时后方可测试。