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🔬 PD IEC TS 62878 系列是英国标准协会(BSI)对 IEC 62878 系列中若干技术规范的英国实施版本,由英国技术委员会 EPL/501(电子组装技术,Electronic Assembly Technology)负责编制,聚焦于器件内嵌基板(device embedded substrate)这一先进封装与电子组装技术。本批收录三个分部,均为”指南(Guidelines)”性质:Part 2-1 给出技术总体描述,Part 2-3 给出设计指南,Part 2-4 给出测试元件组(TEG)指南。三者共同构成器件内嵌基板从技术认知、设计到可靠性评价的完整指南体系,是先进封装与高密度互连(HDI)领域的重要参考。
随着电子产品向小型化、高性能发展,传统表面贴装(SMT)在集成度、电性能与散热方面逐渐遇到瓶颈。器件内嵌基板通过将电阻、电容、电感、滤波器乃至集成电路嵌入基板内层,实现更高密度互连与更优的电气性能。IEC 62878 系列即针对该技术制定技术规范,BSI 以”PD IEC/TS 62878-xxx”形式等同采用。
本批三个分部编号分别为 2-1、2-3 与 2-4,均为指南性技术规范:Part 2-1 介绍技术概况与基本结构,Part 2-3 给出设计层面的具体要求与建议,Part 2-4 规定利用测试元件组(TEG)进行可靠性评价的方法。
| 分部编号 | 标准名称(英文原题) | IEC 版本 | 核心内容 |
|---|---|---|---|
| Part 2-1 | Guidelines — General description of technology(指南——技术总体描述) | IEC TS 62878-2-1:2015(Ed. 1.0) | 内嵌基板基本结构、制造技术、Jisso 安装互连与术语 |
| Part 2-3 | Guidelines — Design guide(指南——设计指南) | IEC TS 62878-2-3:2015(Ed. 1.0) | 基板结构定义、层定义、端子处导体间距、基板与内嵌器件条件及设计规范 |
| Part 2-4 | Guidelines — Test element groups (TEG)(指南——测试元件组) | IEC TS 62878-2-4:2015(Ed. 1.0) | 测试条件、样品制备、试验分类与评价方法、试验报告 |
三个分部均归类于 ICS 31.180(印制电路板基材)与 ICS 31.190(电工电子元件组装),由同一英国技术委员会 EPL/501 负责,内容上依”认识—设计—评价”逻辑递进。
Part 2-1 对器件内嵌基板技术进行总体说明,主要包括:
Part 2-3 面向设计工程师,规定内嵌基板设计的关键要求与建议:
测试元件组(TEG)是指为评价工艺与可靠性而设计的专用测试结构。Part 2-4 规定 TEG 的使用方法: