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📐 DD IEC/PAS 62326 是英国标准协会(BSI)发布的”发展草案”(Draft for Development,DD)系列文件,属于英国采用国际电工委员会(IEC)公开可用规范(Publicly Available Specification,PAS)的标准性文件。该系列由 BSI 技术委员会 EPL/501(电子装配技术)负责归口,覆盖印刷电路板(印制板,Printed Boards)领域的两类关键技术:其一是器件嵌入式基板(Device Embedded Substrate)的术语、可靠性与设计指南(第 14 部分),其二是单面与双面挠性印制布线板(Flexible Printed Wiring Boards)的性能指南(第 7-1 部分)。这两部分互为补充,共同服务于高密度电子组装与挠性互连的技术需求。
DD IEC/PAS 62326 以 IEC 62326(印制板)系列标准为基础,将 IEC 的公开可用规范转化为英国可用的工程文件。与正式的 BS EN 标准不同,DD 文件在使用中强调”试用与反馈”:BSI 在发布时会公开征求使用意见,以便将英国经验反馈给国际电工委员会,推动其转化为正式国际标准。因此,本系列文件在工程应用中具有指导意义,但不应被误读为强制性的成品验收标准。
本批次系列包含以下两部分文件:
| 文件编号 | 主题 | 发布年份 | 对应国际文件 | 核心内容 |
|---|---|---|---|---|
| DD IEC/PAS 62326-14:2010 | 印制板——器件嵌入式基板:术语、可靠性与设计指南 | 2010 | IEC/PAS 62326-14:2010 | 器件嵌入式基板的术语体系、试验方法(TEG 试验载具)与设计指导 |
| DD IEC/PAS 62326-7-1:2007 | 单面与双面挠性印制布线板性能指南 | 2007 | IEC/PAS 62326-7-1:2007 | 挠性板基材、试验方法、性能等级与目视检查要求 |
第 14 部分面向器件嵌入式基板这一高密度封装技术。所谓器件嵌入式基板,是指在基板内部(而非表面)埋入有源或无源器件,从而实现更短的互连路径、更小的封装体积与更好的电性能。该部分首先建立一套完整的术语体系,明确区分”器件嵌入式基板技术”、”基板”、”Jisso 安装与互连”等概念,并给出结构层次与术语的定义。
文件从结构上把器件嵌入式基板分为若干层次,并用规范术语描述其制造流程:
这种分层表述使得工程师能准确理解嵌入式基板的设计意图,并为不同工艺路线提供统一的沟通语言。
可靠性评价是本部分的重要内容。文件提出使用 TEG(Test Equipment Group)试验载具——一种专门设计的”测试载具”(Test Vehicle),在试验电路与试验样品上模拟实际使用环境,对嵌入式器件的电性能、热循环与机械应力进行考核。试验项目与试验设备的选择,必须与实际应用环境相匹配,例如关注热膨胀失配、过孔疲劳以及嵌入器件与基板界面的分层风险。
第 7-1 部分为单面与双面挠性印制布线板提供性能指南。与刚性印制板不同,挠性板在使用中会经历弯曲、折叠与动态挠曲,因此其性能要求必须兼顾电性能与机械柔韧性。文件从以下几个层面提出要求:
由于挠性板常用于可折叠电子设备、可穿戴设备与高密度互连场景,其性能分级与试验方法直接关系到产品的使用寿命与可靠性。