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BS ISO IEC 11695——识别卡光存储卡全息记录方法标准系列（物理特性与可存取光学区域）
Identification cards — Optical memory cards — Holographic recording method（ISO/IEC 11695 英国实施版）
💿 BS ISO/IEC 11695 是 BSI 对 ISO/IEC 11695《识别卡——光存储卡——全息记录方法》系列的英国实施版，由识别卡与个人识别技术委员会（IST/17）归口。该系列针对采用全息记录（Holographic recording）技术的光存储卡制定了统一的物理特性与可存取光学区域要求，涵盖两大部分：第 1 部分规定全息卡片的物理特性（尺寸、结构、耐久性与环境适应性），第 2 部分规定可存取光学区域（Accessible Optical Area）的尺寸与位置。全息记录方法通过在感光介质中记录干涉条纹来实现高密度信息存储，相比传统的磁条、接触式 IC 与非接触式 RFID 具有防伪能力强、存储密度高等特点，因而被广泛用于高安全等级的证件、票务与防伪识别场景。
💡 本系列 2015 年发布第二版，取代 2008 年第一版。与 11695-2 相关的替代信息在 ISO/IEC 官方前言中曾被指出存在表述误差，核对版本与手册时应以 BSI 现行发布版本及官方勘误为准。
一、系列概述与版本沿革 📌
BS ISO/IEC 11695 系列目前包含两份已发布的分标准，均为 2015 年发布、取代 2008 年版：
- BS ISO/IEC 11695-1:2015（全息记录方法——第 1 部分：物理特性）：本 British Standard 是 ISO/IEC 11695-1:2015 的英国实施版，取代并撤销 BS ISO/IEC 11695-1:2008。文件确立了全息光存储卡的总体物理特性框架，包括卡片的尺寸、厚度、边角圆弧、抗弯曲性能、表面质量与耐用性要求，为后续各部分的电气与光学参数提供物理载体基础。
- BS ISO/IEC 11695-2:2015（全息记录方法——第 2 部分：可存取光学区域的尺寸与位置）：本 British Standard 是 ISO/IEC 11695-2:2015 的英国实施版，取代并撤销 BS ISO/IEC 11695-2:2008。文件规定了全息记录区域内供读写设备光学存取的区域（可存取光学区域）的尺寸 R、S、T 等以及该区域在卡片上的位置限定。
⚠️ IS0/IEC 在其前言中承认，本文件(11695-2)中列出的替代(取代)信息存在不准确之处。工程引用与采购文件应注明具体版本号，避免因过时文件造成参数混乱。
二、全息记录的工作原理与优势 🔬
与传统光存储卡不同，全息记录方法并不依赖聚焦激光在介质表面烧蚀出凹坑，而是在感光介质内部记录物光与参考光相干形成的干涉条纹。读写时，用参考光照射已记录区域，介质中的条纹图案会产生衍射，从而重建出原始信息。这一机理带来三个显著优势：
- 存储密度高：全息记录在介质三维体积内并行写入，可在同一物理区域叠加多幅页面数据，使单位面积的信息容量远超一维/二维点阵记录。
- 防伪性能强：干涉条纹图案难以通过普通复印或扫描复制，配合衍射图案可形成肉眼可辨、设备可验证的多重防伪特征，特别适用于证卡等高安全产品。
- 读取稳定性好：信息以体全息形式分布，局部微小损伤对整体读出质量的破坏有限，抗划伤与抗污染能力优于表面点阵型光卡。
三、第 1 部分：物理特性要求 🧲
ISO/IEC 11695-1 以识别卡通用尺寸规范为基准，对全息光存储卡提出以下核心物理特性要求：
| 特性项目 | 要求要点 | 工程意义 |
|---|---|---|
| 卡片高度与宽度 | 与 ISO/IEC 7810 ID-1 卡片尺寸一致，即 85.60 mm × 53.98 mm | 保证与既有读卡器、卡包、制卡设备兼容 |
| 卡片厚度 | 按 ID-1 厚度 0.76 mm 基准并给出公差范围 | 厚度公差决定卡片在输送机构中的通过性 |
| 边角与轮廓 | 圆角半径、边缘倒角符合识别卡通用要求 | 避免尖锐边缘损伤设备与持卡人 |
| 表面质量 | 记录区域表面平整度、无缺陷要求 | 保证全息光路聚焦与读出信噪比 |
| 耐久与环境适应性 | 弯曲、扭转、温度与湿度循环下的性能要求 | 保证卡片在携带与使用周期内的可靠性 |
物理特性是整个系列的”地基”：只有卡片的机械强度、尺寸精度与环境耐受能力满足要求，后续光学记录与读取参数才有稳定的载体。因此标准对卡片材料、层叠结构与表面处理均提出了可验证的试验要求，并要求制造商提供相应的符合性试验记录。
四、第 2 部分：可存取光学区域 🔍
ISO/IEC 11695-2 的核心是规定可存取光学区域（Accessible Optical Area）的尺寸与位置。所谓可存取光学区域，是指全息卡上供读写设备的光学头进行信息读写的矩形区域，其边界以 R、S、T 等尺寸参数描述：
- R、S 等尺寸参数：定义了光学区域的长度、宽度及其相对卡片基准边（通常为上边缘与左边缘）的偏移位置，确保不同厂商的设备在装载卡片后都能正确定位到同一可读区域。
- 位置基准：以卡片的物理边缘为坐标原点建立坐标系，光学区域的位置偏差与尺寸公差均有明确规定，避免因卡片在设备内的定位误差导致读写失败。
- 与印刷区、芯片区的协调：光学区域与卡面印刷图案、凸字区或嵌入式芯片的布局需要协调，防止相互遮挡导致光学头无法对准。
🚨 可存取光学区域的几何一致性是互操作的关键。若制造商擅自缩小或偏移光学区域，即使物理特性全部合格，也无法保证在第三方便携式读写设备上可靠读出，验收时应按第 2 部分逐项核对尺寸参数。
五、工程实践与互操作要点 🛠️
- 🔍 制卡工艺控制：全息记录对介质层厚度均匀性与表面平整度敏感，制卡时应控制层压温度、压力与固化工艺，确保记录层不产生波浪形变形。
- 🔧 设备兼容性验证：采购读写设备前，应确认其光学头工作区域与第 2 部分规定的可存取光学区域匹配，并用标准试验卡进行定位精度验证。
- 📊 环境试验：按第 1 部分要求开展高温、低温、湿热与弯曲循环试验，重点观察光学区域是否出现翘曲或介质层剥离。
- 📋 防伪方案整合：将全息记录与芯片、印刷防伪、激光蚀刻等手段组合，形成多层防伪体系，提升证件整体安全性。
六、常见问题解答 ❓
❓ 问：全息光存储卡与普通光存储卡（如 CD 式光卡）有什么区别？
答：普通光卡在表面以点阵/凹坑方式记录数据，靠表面反射读出；全息光卡在介质体内记录干涉条纹，靠衍射重建读出，存储密度和防伪能力更高，但读写设备和介质的精度要求也更高。
答：普通光卡在表面以点阵/凹坑方式记录数据，靠表面反射读出；全息光卡在介质体内记录干涉条纹，靠衍射重建读出，存储密度和防伪能力更高，但读写设备和介质的精度要求也更高。
❓ 问：BS ISO/IEC 11695 的几个部分能否单独使用？
答：第 1 部分（物理特性）与第 2 部分（可存取光学区域）相辅相成，构成完整的产品规范。进行完整的产品设计与符合性评价时，应同时引用两部分的相应条款。
答：第 1 部分（物理特性）与第 2 部分（可存取光学区域）相辅相成，构成完整的产品规范。进行完整的产品设计与符合性评价时，应同时引用两部分的相应条款。
❓ 问：该标准与 ISO/IEC 7810 卡片尺寸标准是什么关系？
答：ISO/IEC 7810 规定识别卡通用的物理尺寸（ID-1 等），11695-1 在其基础上补充全息光存储卡特有的物理特性要求，二者是”通用 + 专用”的层次关系。
答：ISO/IEC 7810 规定识别卡通用的物理尺寸（ID-1 等），11695-1 在其基础上补充全息光存储卡特有的物理特性要求，二者是”通用 + 专用”的层次关系。
🔍 问：为什么标准强调可存取光学区域的尺寸与位置？
答：因为全息读写设备需要对光学区域进行精确对准。若无统一的区域尺寸与位置约束，不同厂商的卡片与读写设备之间会产生兼容性故障，这也是该系列设置第 2 部分的核心原因。
答：因为全息读写设备需要对光学区域进行精确对准。若无统一的区域尺寸与位置约束，不同厂商的卡片与读写设备之间会产生兼容性故障，这也是该系列设置第 2 部分的核心原因。
